近年来,随着同步辐射掠入射X射线散射（GIWAXS）技术的广泛应用,研究人员对聚合物半导体的理解取得了显著进展.然而,在拉伸条件下利用GIWAXS研究聚合物超薄膜仍面临诸多挑战,主要瓶颈在于新型原位实验装置的开发和数据解析方法的建立.为应对这一难题,本研究设计并开发了一种可控温、可旋转的原位拉伸样品台装置,能够在北京同步辐射装置和上海光源实现对聚合物超薄膜的动态结构表征.以代表性半导体聚合物为例,首次展示了变温拉伸条件下的原位GIWAXS实验结果.研究发现,随着应变和温度的增加,聚合物薄膜的分子排列和堆积发生了显著变化.该研究深化了对聚合物超薄膜在拉伸条件下行为的理解,有望推动可拉伸电子器件及薄膜结构表征方法的设计与优化.